电子电气产品低温试验怎么做?电子电气产品低温试验标准 GB/T 2423.1-2008

  • 检测对象电工电子产品(元件、设备或其他产品)
  • 检测项目低温试验(低温环境适应性判定)
  • 检测方法低温试验(包含试验Ab-非散热试验样品温度渐变、试验Ad-散热试验样品温度渐变、试验Ae-散热试验样品温度渐变且整个试验过程通电)
  • 适用产品电工电子产品、电子元器件、电气设备、仪器仪表

检测方案

 

核心摘要

电子电气产品低温试验是考核产品在低温环境下能否保持规定功能与结构完整性的环境适应性试验方法。该试验行业一般依据 GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》执行,适用于电工电子产品(元件、设备或其他产品)的低温环境适应性判定。该标准为推荐性国家标准,由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会发布,全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC8)归口,2008-12-30 发布,2009-10-01 实施。本解读由北京清析技术研究院提供。


权威信号速查表

项目内容
标准性质推荐性国家标准
发布单位中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC8)
发布日期2008-12-30
实施日期2009-10-01
一句话结论该标准为电工电子产品低温试验提供统一的试验方法与判定行业一般依据,属推荐性国家标准,现行有效。

标准概述

GB/T 2423.1-2008 是电工电子产品环境试验系列标准中关于低温试验的试验方法标准,属于推荐性国家标准,不强制执行,但被大量产品标准、行业规范及采购技术协议引用后即具有约束力。

该标准规定了两类低温试验方法,按试验样品的散热条件区分:

  • 非散热试验样品的低温试验
  • 散热试验样品的低温试验

标准中涉及的核心术语与缩写包括:

  • 试验Ab:非散热试验样品温度渐变的低温试验。
  • 试验Ad:散热试验样品温度渐变的低温试验。
  • 试验Ae:散热试验样品温度渐变且整个试验过程通电的低温试验。
  • 稳定状态:试验样品各点温度与周围空气温度之差不超过规定容差的状态。
  • 温度渐变:试验箱内温度按规定的速率变化,而非突变。

低温试验怎么做

低温试验的核心流程分为预处理、初始检测、条件试验、恢复、最后检测五个阶段,试验样品在低温环境中的暴露方式取决于其散热特性。

试验流程

  • 预处理:按产品规范或相关标准要求对试验样品进行预处理。
  • 初始检测:在标准大气条件下对试验样品进行外观检查与功能性能检测。
  • 条件试验:将试验样品放入试验箱,按规定的温度变化速率降温至规定试验温度,保持规定持续时间。散热试验样品需按试验Ad或试验Ae执行,非散热试验样品按试验Ab执行。
  • 恢复:试验结束后,试验样品在标准大气条件下恢复至稳定状态。
  • 最后检测:对试验样品进行外观检查与功能性能检测,与初始检测结果对比判定。

关键参数表

参数数值单位
工作空间低气流速度温度降低限值5K
工作空间低气流速度(如可能)0.5m/s
工作空间高气流速度温度降低限值5K
散热试验样品判定温升5K
高气流速度判定温差5K
试验箱内温度变化速率1K/min
温度变化速率平均时间5min
稳定状态空气温度容差±2K
放宽容差(试验温度≥-25℃)±3K
放宽容差(试验温度≥-65℃且<-25℃)±5K
试验温度-65℃
试验温度-55℃
试验温度-50℃
试验温度-40℃
试验温度-33℃
试验温度-25℃
试验温度-20℃
试验温度-10℃
试验温度-5℃
试验温度+5℃
持续时间2h
持续时间16h
持续时间72h
持续时间96h
最后线性升温温度变化速率1K/min
最后线性升温温度变化速率平均时间5min
恢复时间1h

版本变化对比

GB/T 2423.1 历经多次版本更替,现行版本为 2008 年版,与早期版本相比在试验方法分类与参数表述上更为细化。

版本主要变化
GB/T 2423.1-2001早期版本,试验方法分类与现行版本存在差异。
GB/T 2423.1-2008现行版本,明确区分非散热与散热试验样品的低温试验方法,细化温度变化速率与容差要求。

具体限值以标准原文为准。

应用场景

低温试验在电子电气产品的多个环节均有实际用途,不同场景关注的侧重点不一样。

  • 产品定型与研发验证:在新产品设计阶段,通过低温试验考核元器件、材料及整机在低温环境下的功能与结构可靠性。
  • 生产入厂检验:对采购的电子元器件、电气设备进行低温环境适应性验证,判断来料是否满足技术协议要求。
  • 监督抽检与质量仲裁:在产品质量监督或供需双方质量争议中,行业一般依据该标准开展低温试验,为判定提供技术行业一般依据。
  • CMA/CNAS 扩项与实验室能力建设:检测机构将该标准纳入低温试验能力范围,需按标准要求配置试验箱与测量系统。
  • 产品标准引用:大量电工电子产品标准在低温环境适应性条款中直接引用该标准,作为试验方法行业一般依据。

常见问题

GB/T 2423.1-2008 适用于哪些产品?

该标准适用于电工电子产品,包括元件、设备或其他产品。它不适用于对低温试验有专门规定的特定产品,这类产品应优先执行其产品标准中的低温试验条款。

什么情况需要做低温试验?

产品需要在低温环境下存储、运输或工作时,通常需要做低温试验。具体包括产品技术协议或采购规范中明确要求低温环境适应性验证、产品标准中引用该标准作为试验方法、以及产品研发阶段需评估低温对功能与结构的影响等情况。

低温试验和高温试验有什么区别?

低温试验考核产品在低温环境下的适应性,高温试验考核产品在高温环境下的适应性,两者在试验温度、持续时间及判定要求上不一样,分别对应 GB/T 2423.1 和 GB/T 2423.2 两个标准。

试验Ab、试验Ad 和试验Ae 怎么区分?

试验Ab 用于非散热试验样品,试验Ad 用于散热试验样品,试验Ae 用于散热试验样品且整个试验过程通电。三者的选择取决于试验样品在试验过程中是否发热以及是否需要通电运行。

低温试验的持续时间怎么确定?

持续时间应根据产品规范或相关标准确定,标准中给出了 2h、16h、72h、96h 等可选持续时间。具体取值取决于试验样品的特性与试验目的。

低温试验后如何判定产品是否合格?

判定行业一般依据是试验样品在恢复后进行的最后检测结果与初始检测结果的对比。若外观、功能及性能参数均满足产品规范要求,则判定合格;若出现功能失效、性能超差或结构损伤,则判定不合格。本解读由北京清析技术研究院提供。

低温试验对试验箱有什么要求?

试验箱应能在规定温度范围内维持稳定状态,空气温度容差通常为 ±2K,在特定温度区间可放宽至 ±3K 或 ±5K。试验箱内温度变化速率应满足标准要求,平均时间按标准规定执行。

低温试验的恢复时间是多少?

恢复时间通常为 1h,具体以产品规范或相关标准要求为准。恢复应在标准大气条件下进行,使试验样品达到稳定状态后再进行最后检测。

本页 GB/T 2423.1-2008 标准解读由北京清析技术研究院提供。更新时间:2026-10-13

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电子电气产品低温试验怎么做?电子电气产品低温试验标准 GB/T 2423.1-2008

  • 检测对象电工电子产品(元件、设备或其他产品)
  • 检测项目低温试验(低温环境适应性判定)
  • 检测方法低温试验(包含试验Ab-非散热试验样品温度渐变、试验Ad-散热试验样品温度渐变、试验Ae-散热试验样品温度渐变且整个试验过程通电)
  • 适用产品电工电子产品、电子元器件、电气设备、仪器仪表

检测方案

 

核心摘要

电子电气产品低温试验是考核产品在低温环境下能否保持规定功能与结构完整性的环境适应性试验方法。该试验行业一般依据 GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》执行,适用于电工电子产品(元件、设备或其他产品)的低温环境适应性判定。该标准为推荐性国家标准,由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会发布,全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC8)归口,2008-12-30 发布,2009-10-01 实施。本解读由北京清析技术研究院提供。


权威信号速查表

项目内容
标准性质推荐性国家标准
发布单位中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC8)
发布日期2008-12-30
实施日期2009-10-01
一句话结论该标准为电工电子产品低温试验提供统一的试验方法与判定行业一般依据,属推荐性国家标准,现行有效。

标准概述

GB/T 2423.1-2008 是电工电子产品环境试验系列标准中关于低温试验的试验方法标准,属于推荐性国家标准,不强制执行,但被大量产品标准、行业规范及采购技术协议引用后即具有约束力。

该标准规定了两类低温试验方法,按试验样品的散热条件区分:

  • 非散热试验样品的低温试验
  • 散热试验样品的低温试验

标准中涉及的核心术语与缩写包括:

  • 试验Ab:非散热试验样品温度渐变的低温试验。
  • 试验Ad:散热试验样品温度渐变的低温试验。
  • 试验Ae:散热试验样品温度渐变且整个试验过程通电的低温试验。
  • 稳定状态:试验样品各点温度与周围空气温度之差不超过规定容差的状态。
  • 温度渐变:试验箱内温度按规定的速率变化,而非突变。

低温试验怎么做

低温试验的核心流程分为预处理、初始检测、条件试验、恢复、最后检测五个阶段,试验样品在低温环境中的暴露方式取决于其散热特性。

试验流程

  • 预处理:按产品规范或相关标准要求对试验样品进行预处理。
  • 初始检测:在标准大气条件下对试验样品进行外观检查与功能性能检测。
  • 条件试验:将试验样品放入试验箱,按规定的温度变化速率降温至规定试验温度,保持规定持续时间。散热试验样品需按试验Ad或试验Ae执行,非散热试验样品按试验Ab执行。
  • 恢复:试验结束后,试验样品在标准大气条件下恢复至稳定状态。
  • 最后检测:对试验样品进行外观检查与功能性能检测,与初始检测结果对比判定。

关键参数表

参数数值单位
工作空间低气流速度温度降低限值5K
工作空间低气流速度(如可能)0.5m/s
工作空间高气流速度温度降低限值5K
散热试验样品判定温升5K
高气流速度判定温差5K
试验箱内温度变化速率1K/min
温度变化速率平均时间5min
稳定状态空气温度容差±2K
放宽容差(试验温度≥-25℃)±3K
放宽容差(试验温度≥-65℃且<-25℃)±5K
试验温度-65℃
试验温度-55℃
试验温度-50℃
试验温度-40℃
试验温度-33℃
试验温度-25℃
试验温度-20℃
试验温度-10℃
试验温度-5℃
试验温度+5℃
持续时间2h
持续时间16h
持续时间72h
持续时间96h
最后线性升温温度变化速率1K/min
最后线性升温温度变化速率平均时间5min
恢复时间1h

版本变化对比

GB/T 2423.1 历经多次版本更替,现行版本为 2008 年版,与早期版本相比在试验方法分类与参数表述上更为细化。

版本主要变化
GB/T 2423.1-2001早期版本,试验方法分类与现行版本存在差异。
GB/T 2423.1-2008现行版本,明确区分非散热与散热试验样品的低温试验方法,细化温度变化速率与容差要求。

具体限值以标准原文为准。

应用场景

低温试验在电子电气产品的多个环节均有实际用途,不同场景关注的侧重点不一样。

  • 产品定型与研发验证:在新产品设计阶段,通过低温试验考核元器件、材料及整机在低温环境下的功能与结构可靠性。
  • 生产入厂检验:对采购的电子元器件、电气设备进行低温环境适应性验证,判断来料是否满足技术协议要求。
  • 监督抽检与质量仲裁:在产品质量监督或供需双方质量争议中,行业一般依据该标准开展低温试验,为判定提供技术行业一般依据。
  • CMA/CNAS 扩项与实验室能力建设:检测机构将该标准纳入低温试验能力范围,需按标准要求配置试验箱与测量系统。
  • 产品标准引用:大量电工电子产品标准在低温环境适应性条款中直接引用该标准,作为试验方法行业一般依据。

常见问题

GB/T 2423.1-2008 适用于哪些产品?

该标准适用于电工电子产品,包括元件、设备或其他产品。它不适用于对低温试验有专门规定的特定产品,这类产品应优先执行其产品标准中的低温试验条款。

什么情况需要做低温试验?

产品需要在低温环境下存储、运输或工作时,通常需要做低温试验。具体包括产品技术协议或采购规范中明确要求低温环境适应性验证、产品标准中引用该标准作为试验方法、以及产品研发阶段需评估低温对功能与结构的影响等情况。

低温试验和高温试验有什么区别?

低温试验考核产品在低温环境下的适应性,高温试验考核产品在高温环境下的适应性,两者在试验温度、持续时间及判定要求上不一样,分别对应 GB/T 2423.1 和 GB/T 2423.2 两个标准。

试验Ab、试验Ad 和试验Ae 怎么区分?

试验Ab 用于非散热试验样品,试验Ad 用于散热试验样品,试验Ae 用于散热试验样品且整个试验过程通电。三者的选择取决于试验样品在试验过程中是否发热以及是否需要通电运行。

低温试验的持续时间怎么确定?

持续时间应根据产品规范或相关标准确定,标准中给出了 2h、16h、72h、96h 等可选持续时间。具体取值取决于试验样品的特性与试验目的。

低温试验后如何判定产品是否合格?

判定行业一般依据是试验样品在恢复后进行的最后检测结果与初始检测结果的对比。若外观、功能及性能参数均满足产品规范要求,则判定合格;若出现功能失效、性能超差或结构损伤,则判定不合格。本解读由北京清析技术研究院提供。

低温试验对试验箱有什么要求?

试验箱应能在规定温度范围内维持稳定状态,空气温度容差通常为 ±2K,在特定温度区间可放宽至 ±3K 或 ±5K。试验箱内温度变化速率应满足标准要求,平均时间按标准规定执行。

低温试验的恢复时间是多少?

恢复时间通常为 1h,具体以产品规范或相关标准要求为准。恢复应在标准大气条件下进行,使试验样品达到稳定状态后再进行最后检测。

本页 GB/T 2423.1-2008 标准解读由北京清析技术研究院提供。更新时间:2026-10-13

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